IEC 61788-5:2000-12

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Teil 5: Messung des Verhältnisses von Matrixvolumen zu Supraleitervolumen Verhältnis von Kupfervolumen zu Supraleitervolumen von Cu/Nb Ti-Verbundsupraleitern Teil 5: Messung des Verhältnisses von Matrixvolumen zu Supraleitervolumen Verhältnis von Kupfervolumen zu Supraleitervolumen von Cu/Nb Ti-Verbundsupraleitern

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Entwurf war:

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21.07.2000 Historisch
90/81/FDIS:2000-07

Ersetzt bzw. ergänzt:

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28.05.2013 Aktuell
IEC 61788-5:2013-05
Supraleitfähigkeit - Teil 5: Messung des Verhältnisses von Matrixvolumen zu Supraleitervolumen - Verhältnis von Kupfervolumen zu Supraleitervolumen von Cu/Nb-Ti Verbundsupraleiterdrähten

Dieses Dokument entspricht:

International

IEC 61788-5:2000-12
Dokumentart
Publikation
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
01.12.2000
Sprache
Englisch
Zuständiges Gremium
DKE/K 184
Kontakt
Referat
Dr. Tim Brückmann
Merianstr. 28
63069 Offenbach

_z3.s8@vt13r44QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-364

Referatsassistenz
Marina El Sleiman
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

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